GOM afholder international metrologikonference

01. juli 2015

GOM 3D Metrology Conference afholdes fra den 21.-24. september 2015 i Braunsweig, Tyskland, og er et internationalt forum for 3D måleteknik.

Optisk måleteknik er i dag en anerkendt og brugt teknologi inden for industri og forskning. På GOM 3D Metrology Conference får du brugerpræsentationer, live demonstrationer og en teknisk udstilling, der alt sammen giver et bredt indblik i teknologiens mange anvendelsesområder. 

I det veletablerede forum for ledere, kvalitetsmedarbejdere og eksperter fra anerkendte virksomheder og forskningsinstitutioner, er der rig mulighed for at udveksle erfaringer med 3D scanning og måling. I de seneste år, har mere end 600 personer fra 40 lande deltaget i konferencen.

To konferencer i én
GOM afholder to arrangementer under GOM 3D Metrology Conference, og det er muligt at tilmelde sig ét eller begge arrangementer.

Materiale- og komponentanalyse, 21.-22. september 2015
En konference med fokus på materiale- og komponentanalyse, hvor emner som verifikation af simuleringer, dynamisk bevægelsesanalyse og bestemmelse af materialekarakteristika er på programmet.

3D scanning og koordinatmåling, 23.-24. september 2015
En konference med fokus på optisk metrologi i industrielle processer, hvor hovedtemaerne er kvalitetskontrol, inspektion, automatisering og reverse engineering.

Tilmelding og mere information
GOM 3D Metrology Conference er gratis og afholdes i GOMs hovedkontor i Braunsweig, Tyskland. Tilmelding sker direkte på www.gom-conference.com, hvor du kan læse mere om konferencen og se det foreløbige program. 

Zebicon er repræsenteret ved konferencen alle dage.

Tilmeld dig GOM 3D Metrology Conference

Kontakt

Katja Ramsing
Marketing Manager

+45 4196 4956
kr@zebicon.com

 
X








* skal udfyldes