Tag med til GOM 3D Metrology Conference

01. juni 2017

Zebicon deltager i metrologikonferencen og inviterer dig med.

Fra den 26.-27. september 2017 afholder GOM en international 3D metrologikonference. Konferencen er gratis og afholdes ved GOM i Braunschweig, Tyskland. Her mødes eksperter, måleteknikere og ledere fra 40 lande for at lære om optisk måleteknologi.

På konferencen deler foredragsholdere fra internationale virksomheder deres erfaringer, og GOM præsenterer de seneste tendenser og nyeste udvikling inden for scanningsteknologi og software.

En god mulighed til at få indsigt i optiske målemetoder
Programmet for konferencen står på præsentationer om 3D prøvning og 3D metrologi, industrispecifikke emner og tekniske udstillinger.

Deltagerne har også mulighed for at få en guidet rundvisning i GOMs domicil og få indblik i produktionen af ​​måleteknisk udstyr. Om aftenen vil der være en netværksmiddag med mulighed for udveksling af erfaringer.

Zebicon deltager på konferencen begge dage og opfordrer dig til at tage med til et spændende arrangement.

Detaljer
Dato: 26.-27. september 2017
Sted: GOM, Schmitzstrasse 2, 38122 Braunschweig, Germany
Registrering er gratis.

Læs mere om GOM Conference 2017 og registrer dig nu.

Tilmeld dig

Kontakt

Katja Ramsing
Projektleder

+45 4196 4956
kr@zebicon.com

 
X








* skal udfyldes