Analyse af komponenter

Inspektion af print og elektronikkomponenter


Zebicon tilbyder analyse af elektronikkomponenter og monterede emner med henblik på at dokumentere interaktion mellem elementer, lodninger, printbaner, kortslutning m.m. Analysen bruges typisk til at af- eller bekræfte fejlkilder, og til at tjekke om komponenter er placeret hensigtsmæssigt efter montage.

En sådan type analyse udføres ved hjælp af CT scanningProcessen er non-destruktiv, så det er muligt at dokumentere detaljer uden at ødelægge eller demontere emnet. Zebicons CT scanner er en Phoenix nanotom S fra GE Measurement & Control Systems. Systemet scanner emner på op til 150 mm x 130 mm (hxd) med en opløsning på 5,3 megapixel. CT scanning foregår i Zebicons målelaboratorium.

Dokumentation fra inderst til yderst
Da CT scanning er røntgenteknologi, kan både indvendig og udvendig geometri dokumenteres og skjulte detaljer kan analyseres. 

Analyse af komponenter kan bruges til: 

  • Kontrol af printbaner, kontaktpunkter og forbindelser
  • Tjek af lodninger og kortslutninger
  • Kontrol af interaktion mellem elementer 

Foto, video slide eller interaktiv 3D model
Resultatet af en komponentanalyse fra Zebicon er typisk en række fotos kombineret med et video slideshow, der viser emnet lag for lag i et bestemt plan.

Data kan desuden leveres til de gratis programmer myVGL og GOM Inspect, der giver mulighed for yderligere analyse og inspektion.

 

Kontakt

Kim D. Andersen
Projektleder

+45 4196 4953
kda@zebicon.com

CASE - Headset

GN Netcom A/S ønskede at få viden om interaktionen mellem indvendige elementer i et headset.

Zebicon gennemlyste emnet med CT scanning og dokumenterede de indvendige elementer. 

Læs casen

 
X








* skal udfyldes